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关于我们
中心简介
凯信达研发中心汇集了一批业内知名的专业科技人才,有从事锂电研发制造十多年的资深专家、工程师、硕士及本科生等。其中有工程师12人,研究生3人,本科生6人,大专生3人。研发中心瞄准世界锂电池技术前沿,以支持生产为主要目标,并进行基础研究。能在5天左右设计出客户需要的新产品,每个月研发出多款软包和圆柱新产品。拥有多条小试生产线和一条日生产能力为一千只电池的中试生产线,确保以最快的速度将实验成果转化为产品,而且公司每年投入销售额的3%用于研发中心的建设和新产品的开发,不断提高我司的研发实力和创新能力。与其它公司相比,公司在电动车、安防产品、电动玩具、数码产品、无线通讯、灯具、便携式DVD等领域研发,具有较明显的优势。

新产品开发程序
凯信达研发中心以客户需求为起点,通过使用多种科学分析工具展开研究,大量采集有效可靠的数据,运用统计手段,找到各种关键参数,开发出符合客户需要的高品质电池产品。
量产工序成熟度研究
设备仪器
研发中心目前拥有X射线衍射仪、比表面积分析仪、X荧光光谱仪、气相色谱仪、激光粒度仪、X-透视仪、原子吸收分光光度计及电感耦合等离子高频发射光谱仪。
(1) X射线衍射仪(XRD)
X射线衍射仪是利用衍射原理, 对多晶物相进行测定,精确的进行物相分析(定性或定量)、晶胞参数的测定、点阵畸变的测定、结晶度测定和Rietveld分析等,方法简便灵活、数据可靠,适用于各种多晶物相分析,我司主要用于电池材料物相及晶体结构的分析。
(2) 比表面积分析仪
比表面分析仪是用来检测颗粒物质比表面积的专用设备。比表面积是单位质量物质的表面积(㎡/g),它是粉体材料最重要的物性之一。我司主要用于粉体主材料及添加剂等比表面积的测试,监控粉体材料的来料品质。
(3) X荧光光谱仪(XRF)
X射线荧光光谱仪是基于偏振能量色散 (ED-XRF)的分析方法,可分析固体、粉末、液体等样品,分析范围为Be到U。近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,大多数分析元素均可用其进行分析,并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小、样品不被破坏等的特点。我司主要用于欧盟ROHS指令中有害物质的检测,及快速进行材料元素组份分析及镀层厚度分析。
(4) 气相色谱仪(GC)
色谱色谱仪(GC)是基于各组分在流动相和固定相之间分配系数不同,当试样被载气带入色谱柱中,在两相间进行反复多次分配过程,由于固定相对组份溶解、吸附、渗透或离子交换等作用的不同,产生了保留能力明显差异的效果,经过色谱柱后,彼此分离,按照先后次序从色谱柱中流出,进入检测器,在记录仪上显示出各组分的谱图。根据先后次序、峰高度或峰面积可区别各组分,并计算出各组分含量。我司采用GC测试电池充放电过程中气体成份及含量。
(5) 激光粒度仪
激光粒度分析仪原理是激光束在传播过程中遇到样品池内颗粒样品,与之相互作用,会聚的光束散射到探测器,转换成电信号输出。它广泛用于测试各种非金属粉、金属粉末(如铜粉、合金粉、稀土金属粉等)的粒度,具有重复性好、测试范围宽、测试迅速快等特点,我司主要用于粉体材料粒径的测试,检验粉体材料的品质。
(6) X-透视仪
X射线-透视仪利用X射线的穿透力,可分析物质内部结构,广泛用于透视骨质、非金属、薄金属、塑料等物品。我司主要用来进行电池内部结构观测。
(7)原子吸收分光光度计
原子吸收分光光度计是利用待测元素被加热原子化,成为基态原子蒸汽,对空心阴极灯发射的特征辐射进行选择性吸收,测定其吸光度,其吸收强度与试液中被测成份的含量成正比,根据郎伯-比耳定律计算出元素含量。它主要用于痕量元素杂质的分析,具有灵敏度高及选择性好两大主要优点,我司主要用于电池材料中微量杂质元素含量分析以及ROHS指令中有害金属元素的准确测试。
(8)电感耦合等离子高频发射光谱仪(ICP-OES)
电感耦合高频等离子发射光谱(ICP-OES)分析是将试样在等离子体光源中激发,使待测元素发射出特征波长的辐射,经过分光,测量其强度而进行定性、定量分析的方法。ICP-OES具有分析速度快,灵敏度高,稳定性好,线性范围广,基体干扰小,可多元素同时分析等优点。现已广泛用于地质、环保、化工、生物、医药、食品、冶金、农业等各行业,我司主要用于分析电池材料中元素成份及含量。
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